第十二届IC测试研讨会火热报名中……

伯乐小助手·2018-11-21

近年来,国内IC产业发展迅猛,国家在集成电路(IC)产业也大力扶持,半导体行业在未来的10到20年内或将成为国家的支柱性型产业,从目前的全国各地大举建造半导体工厂就可见一斑,半导体的高速发展必然会推动其测试技术的发展。


本次研讨会我们邀请了业界资深人士,针对RF器件测试,混合信号测试以及失效分析测试做一个典型的技术探讨,相信这又是一次极难得的技术提高机会,各位业界同仁千万别错过!


活动议程

1.jpg

限130名,预报从速!!!

心动大奖, 不容错过!!!

2.jpg

演讲主题简介

《RF器件测试---LNA 案例详解》

RF器件的测试,对测试工程师来说向来都是最难以捉摸的测试,单从测试参数来看就有点晦涩难懂,其用到的仪器设备也不是那么好掌握,演讲内容主要分为两部分:


  • 介绍射频电路基本概念以及单位换算的导出,并举例说明RF器件测试外围模块中功分器、衰减器、放大器、定向耦合器基本功能,帮助测试工程师理解实验室测试及量产测试中可能用到的辅助模块。

  • 围绕网络分析仪原理,着重介绍了RF模拟器件中的基本端口及网络参数,史密斯圆图的基本概念。并以RF LNA为详细案例,解释了其具体测试的网络参数及实验室测试方案。


《MCU+PMIC芯片测试挑战和解决方案》

近年来数模混合IC市场增长迅速,市场规模复合年增长率接近10%,特别是中国数模混合IC设计企业已逐渐形成规模。其中以MCU和PMIC为主,由于应用环境日趋复杂,对测试的要求日益提高,并且由于市场竞争激烈,对测试成本也愈发敏感。那么如何来解决这些测试问题呢?


联动科技近期推出的更高测试精度,更多资源通道的QT8000系列测试机,将可以完美的解决这一问题,演讲内容主要分为四部分:


  • 数模混合IC市场概况

  • 数模混合IC测试挑战

  • MCU及PMIC的案例分享

  • 互动答疑


《失效分析概述》

失效分析在半导体行业里,是个难度系数比较高的一个技术工作,因为需要掌握大量的专业知识,才能胜任失效分析的工作,这些专业知识不仅包括芯片设计,晶圆制造,封装测试,还有终端客户的应用场景,使用环境等等,所以能够做好失效分析工作绝不是件容易的事,演讲内容主要分为三部分:


  • 集成电路失效分析简介

  • 失效分析设备简介

  • 失效分析案例分享


组织单位

主办方:专业IC测试网

承办方:摩尔精英


心动大奖

3.jpg

时间&地点

2018年11月24日(周六) 13:30-17:30

上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡

限130名,预报从速!!!

心动大奖, 不容错过!!!

4.jpg

备注:参会者请携带个人名片,用于抽奖环节,人人参与,大奖等你。

5.jpg


文章转载来源:大同学吧公众号